電子部品のためのカスタマイズされた熱ショック試験室

ダイナミックなエレクトロニクス業界において、部品の信頼性と耐久性は非常に重要です。当社のカスタマイズ熱衝撃試験チャンバーは、メーカーが電子部品を極端な温度変化にさらし、過酷な熱応力条件下での性能を評価することを可能にします。

これらのチャンバーは、電子部品がそのライフサイクルで遭遇する可能性のある熱衝撃をシミュレートし、急速な温度変化を作り出します。スマートフォンが寒い屋外から暖かい屋内環境に移動する場合から、宇宙の衛星電子機器まで、当社のチャンバーはこれらのシナリオを再現し、部品、回路基板、コネクタの潜在的な弱点を特定します。

• 堅牢で断熱されたチャンバー構造高品質で耐熱性の高い材料で構成されており、頑丈なスチール製の外装と非反応性の内張りを使用しています。急速な温度変化のための優れた断熱性と、ビューイングウィンドウ付きの密閉されたドアを備えています。
• 精密な温度制御高度なシステムは、-60℃から+180℃の範囲で±1℃の均一性を実現します。正確で急速な移行のために、強力な加熱/冷却要素、洗練されたフィードバックループ、および複数のセンサーを利用しています。
• 効率的な空気の流れと移動高効率の空気の流れシステムは、均一な温度分布を保証します。耐熱性の移動バスケットにより、サンプルを損なうことなく温度ゾーン間をシームレスに移動できます。

• さまざまな部品サイズに対応するためのカスタマイズ可能な容量と寸法
• 温度範囲：-60℃～+180℃
• 急速な温度変化（5～10分）
• ±1℃以内の温度均一性

各チャンバーは、厳格な品質管理の下で、慎重に調達されたコンポーネントを使用して製造されています。トレーサブルな規格を使用した定期的な校正により、試験結果の精度と再現性が保証されます。厳格な品質監査により、最高の製品基準が維持されています。