カスタム式熱ショック試験室は,JESD22-A106B規格を満たしている.

非常に競争力のある革新主導型の半導体およびエレクトロニクス産業では、JESD22-A106Bの熱衝撃試験基準を満たすように設計されたカスタム熱衝撃チャンバーが、電子成分の品質と耐久性を確保するためのゲームチェンジャーとして現れます。

このカスタム構築されたサーマルショックチャンバーは、統合回路、トランジスタ、コンデンサ、コネクタなどの多様な範囲の半導体および電子コンポーネントを、JESD22-A106Bによって義務付けられた厳密な熱衝撃テストプロトコルにさらされることに専念しています。

半導体メーカー、電子機器設計ハウス、品質保証研究所にとって不可欠なツールとして機能します。包括的な目的は、これらのコンポーネントが迅速かつ極端な温度遷移に耐える能力を評価することです。

製造プロセス、運用上の寿命、およびさまざまな環境シナリオでコンポーネントが遭遇する可能性のある熱ショック条件を複製することにより、製造業者は潜在的な弱点を特定して修正し、生産プロセスを最適化し、電子製品の全体的な信頼性とパフォーマンスを高めることができます。

• 堅牢で高性能チャンバー構造
  • チャンバーは、激しい熱力に耐えることができる頑丈で耐熱性の材料で構成されています。
  • 壁は、高強度合金鋼で製造され、高度な熱断熱層と組み合わせて、高温ゾーンとコールドゾーン間の熱伝達を最小限に抑えます。
  • ドアには、精密シーリングメカニズムと表示ウィンドウがあり、オペレーターがチャンバーの完全性を損なうことなくテストプロセスを綿密に監視できるようになります。
  • インテリアはカスタムラックと備品で設計されており、さまざまなコンポーネントサイズと形状の調節を可能にし、熱ショック条件に均一な曝露を確保します。
• 超高精度温度制御とサイクリングシステム
  • 温度範囲とサイクリング：通常、-80°Cから +150°Cまでの広い温度範囲を達成できます。システムは、数秒という短い移行時間で、ホットゾーンとコールドゾーンの間で急速な温度サイクリングを実行できます。これは、電子部品が経験する可能性のある急激な温度変化を模倣するために重要です。温度制御は±0.2°C以内に正確であり、非常に信頼性が高く再現可能なテスト結果を提供します。
  • プログラム可能な温度プロファイル：チャンバーの制御システムは、複雑なカスタム温度プロファイルの作成と実行を可能にします。オペレーターは、特定の温度レベル、各ゾーンの滞留時間、および熱ショックサイクルのシーケンスと数を定義して、現実世界の製造および動作条件の多様な範囲を複製できます。この柔軟性により、さまざまなミッションクリティカルなシナリオでコンポーネントを包括的にテストすることができます。
• 直感的なコントロールパネルとデータ収集インターフェイス
  • コントロールパネルは、半導体および電子機器エンジニアが使いやすくするために設計されています。これは、温度、サイクリング時間、コンポーネントの識別など、すべてのテストパラメーターの簡単な設定と調整を可能にするユーザーフレンドリーなインターフェイスを提供します。
  • パネルは、両方のゾーンの現在の温度のリアルタイムディスプレイ、テストプロセスのステータス、およびアラームまたは警告も提供します。
  • チャンバーは、すべての関連するテストデータを記録する包括的なデータ収集システムと統合されています。これには、詳細な温度履歴、サイクルカウント、およびテストされたコンポーネントの電気的、物理的、または性能特性の観察可能な変化が含まれます。
  • データは、チャンバーの組み込みメモリに安全で暗号化された形式で保存するか、詳細な分析とレポートのために外部ストレージデバイスにエクスポートできます。システムは、さまざまな標準化された形式で詳細なテストレポートを生成することもできます。
• 安全性とセキュリティ機能の強化
  • オペレーターの安全性と敏感なテストサンプルとチャンバー自体の保護を確保するために、一連の高度な安全性とセキュリティ機能が組み込まれています。
  • これらには、過度の過電流保護の複数の層、冗長回路を備えた緊急停止ボタン、異常な温度変動、機器の故障、またはセキュリティ違反のアラームが含まれます。
  • チャンバーには、バイオメトリック認証やスマートカードリーダーなどのアクセス制御メカニズムも装備されており、不正アクセスや保護された分類テストアクティビティを防ぎます。
  • さらに、テスト中に生成される可能性のある危険なガスまたは蒸気を処理するための、自己完結型の消火システムと適切な換気および排気メカニズムがあります。

• 温度範囲と精度
  • ±0.2°C精度のある-80°C〜 +150°Cの温度範囲は、包括的で正確なテストエンベロープを提供します。
  • 電子コンポーネントは、複雑な内部構造と機能により、多くの場合、温度耐性要件が厳密です。
  • たとえば、トランジスタの電気的特性は温度とともに大幅に変化する可能性があり、その安定性を評価するためには正確な温度制御が不可欠です。
  • 広い温度範囲により、非常に寒い状態と暑い状態の両方でコンポーネントを評価することができ、JESD22-A106Bのコンプライアンスが確保されます。
• サーマルショックサイクルパラメーター
  • チャンバーは、コンポーネントの特定の要件とその予想されるサービス寿命に応じて、数十から数千の範囲の非常にカスタマイズ可能な数の熱衝撃サイクルを実行するようにプログラムできます。
  • 各温度ゾーンの滞留時間は、ミリ秒から時間に調整でき、膨大な数の製造および運用シナリオのシミュレーションを可能にします。
  • たとえば、モバイルデバイスで使用される統合回路は、使用中に頻繁に頻繁に衝撃的な衝撃サイクルに耐える必要がある場合がありますが、サーバーのコンポーネントはより長く、頻繁なサイクルが発生する場合があります。